X-射线衍射仪

X-ray diffractionmeter

型号：Ultima Ⅳ    厂商：Agilent（美国安捷伦公司）

X射线衍射相分析利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的X射线照射试样，试样中的物质受激发，会产生二次荧光X射线（标识X射线），晶体的晶面反射遵循布拉格定律。通过测定衍射角位置（峰位）可以进行化合物的定性分析，测定谱线的积分强度（峰强度）可以进行定量分析，而测定谱线强度随角度的变化关系可进行晶粒的大小和形状的检测。

1.主要技术参数

（1）测量精度：角度重现性：±0.0001°；  

（2）测角仪半径：≥200mm，测角圆直径可连续变 ；

（3）靶材：铜靶；

（4）最小步长：0.0001°；

（5）角度范围（2θ）：0.2-140°；

（6）温度范围：室温；

（7）最大输出功率：3kW；

（8）管电压：20～60Kv;

（9）管电流：10～60mA。

2.服务项目

（1）小角X射线衍射；

（2）广角X射线衍射；

（3）物相鉴定及其百分含量；

（4）X射线残余应力分析。

3.案例分析

4.送样要求

（1）粉末样品：样品质量≥50mg，样品均匀干燥，尽量大于200目，手摸无明显颗粒感；

（2）块状样品：长宽尺寸1cm-2cm,厚度≤3mm，表面公整平滑，需标明测试面；

（3）长宽尺寸1cm-2cm，薄膜厚度高于100nm，表面光滑平整；

（4）液体样品：1ml以上，需滴到硅片上制样，需保证样品易挥发，不含有难挥发的液体物质。